芯片溫度循環測試要求——瑞凱儀器
作者:moloen編輯:瑞凱儀器來源:www.yubutong.com發布時間:2021-01-23 13:58:00
1、溫度循環測試裝置
瑞凱高低溫箱——溫度范圍、測試時間可控。
2、溫度溫循的高低溫條件如下表:
實際的高低溫須參照Datasheet說明,一般在“建議運行條件”會給出建議運行的環境溫度范圍。
溫循溫度示意圖:
說明:
Ts(min)為溫循最低溫度
Ts(max)為溫循最高溫度
cycletime為溫循周期
Ramprate為溫升率
建議Cycle周期0.5h,即2cycles/hour。
建議溫升率(Ramprate)不超過15℃/min。
Ts(min)和Ts(max)的持續時間不低于1min。
循環次數:
參考JESD47標準:
推薦循環總次數為1000次,并且在200、500、700、1000次時復測。
4、失效判據
溫循過程,出現機械形變、斷裂等物理損傷。
ATE\功能篩片有功能失效、性能異
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