- [技術文章]恒溫恒濕試驗箱校準的標準分類2020年08月27日 15:03
- 在日常的溫度、濕度檢測和校準過程中，我們會經常遇到各式各樣的恒溫恒濕試驗設備的檢測與校準，其中有高溫試驗箱(房)、干燥箱、培養箱、真空箱、低溫試驗箱、高低溫試驗箱(房)、恒溫恒濕試驗箱、交變濕熱試驗箱(房)、鹽霧試驗箱等各種環境試驗設備。
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- [技術文章]電子元器件可靠性試驗一般流程2020年08月22日 14:27
- 隨著電子技術的發展,電子設備越來越復雜,其可靠性驗證問題越來越突出，復雜電子設備的MTBF高達2 000~5 000 h，最高可達到50000h。傳統的環境模擬試驗已經遠遠不能滿足現代電子設備發展的要求，對高可靠性電子設備如何驗證和評價已經成為急待解決的問題，而可靠性加速試驗正是解決這一-突出矛盾的根本方法,解決了常規可靠性工程試驗周期比較長，消耗比較大的問題。目前，加速可靠性試驗技術領域的研究非常活躍,是電子設備可靠性試驗領域的重要研究方向。
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- [技術文章]IC芯片等產品高溫測試失效原因分析2020年06月12日 10:28
- 該產品的高溫失效問題，與COB各材料都有著密切的關系: PCB、IC、邦定線、黑膠。但最主要的原因是在IC質量有缺陷的前提下，由于黑膠、邦定線、PCB各部分的熱膨脹系數(CTE)，在高溫條件下，黑膠可能拉動邦定線，導致接觸不良使得IC功能喪失。
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