電子元器件可靠性試驗一般流程
作者:zoey編輯:瑞凱儀器來源:www.yubutong.com發布時間:2020-08-22 14:27:00
隨著電子技術的發展,電子設備越來越復雜,其可靠性驗證問題越來越突出,復雜電子設備的MTBF高達2 000~5 000 h,最高可達到50000h。傳統的環境模擬試驗已經遠遠不能滿足現代電子設備發展的要求,對高可靠性電子設備如何驗證和評價已經成為急待解決的問題,而可靠性加速試驗正是解決這一-突出矛盾的根本方法,解決了常規可靠性工程試驗周期比較長,消耗比較大的問題。目前,加速可靠性試驗技術領域的研究非常活躍,是電子設備可靠性試驗領域的重要研究方向。

電子可靠性試驗目前應用設備多為PCT高壓加速老化試驗機和HAST高壓加速老化試驗機,兩者之間的區別是濕度區別,HAST濕度范圍是65%~100%R.H(濕度可調),PCT濕度范圍是100%R.H(飽和蒸汽),目前國內真正高壓加速老化試驗機廠家并不是很多,瑞凱儀器是國內比較先進的高加速老化廠家之一,成立早年就已經開始研發生產加速老化設備,目前為此,已為多國內知名電子廠家提供高壓加速老化試驗機解決方案。
電子設備可靠性試驗箱流程:

可靠性加速試驗要求各專業人員要協同作業??煽啃约铀僭囼炇窃谠囼炛惺┘討?,并連續進行檢測以找出故障,進行故障定位,并對缺陷進.行分析和采。改進措施,試驗過程中設備設計人員、試驗人員、故障分析人員和管理人員要聯合協同作業,技術人員和管理人員之間必須密切配合,才能使試驗高效進行。
在試驗過程中,要記錄各類數據和信息,并將得到的信息和經驗納人數據庫進行管理并共享信息。試驗數據信息對開展試驗分析、以及同類設備研制可以起到借鑒作用。當再次發生同類故障時,或開展其他設備研制時,可從數據庫中獲取寶貴的數據。











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