- [技術文章]芯片IC可靠性驗證試驗HTOL、HAST、HTSL2021年01月08日 16:45
- 高溫老化壽命試驗(HTOL)參考標準:JESD22-A108;測試條件:For devices containing NVM, endurance preconditioning must be performed before HTOL per Q100-005/對于含有NVM的設備,在使用HTOL之前必須按照Q100-005進行耐久預處理
- 閱讀(7264) 標簽:芯片高壓加速老化試驗|hast老化測試
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