芯片IC可靠性驗證試驗HTOL、HAST、HTSL
作者:瑞凱小編編輯:瑞凱儀器來源:www.yubutong.com發布時間:2021-01-08 16:45:00
一、高溫老化壽命試驗(HTOL)
參考標準:JESD22-A108;
測試條件:
For devices containing NVM, endurance preconditioning must be performed before HTOL per Q100-005.
Grade 0: +150℃ Ta for 1000 hours.
Grade 1: +125℃ Ta for 1000 hours.
Grade 2: +105℃ Ta for 1000 hours.
Grade 3: + 85℃ Ta for 1000 hours.
Vcc (max) at which dc and ac parametric are guaranteed. Thermal shut-down shall not occur during this test.
TEST before and after HTOL at room, hot, and cold temperature.
譯文:
一、高溫老化壽命試驗(HTOL)
參考標準:JESD22-A108;
測試條件:
對于含有NVM的設備,在使用HTOL之前必須按照Q100-005進行耐久預處理。
0級:+150℃Ta 1000小時。
1級:+125℃Ta 1000小時。
2級:+105℃Ta 1000小時。
3級:+ 85℃Ta 1000小時。
保證直流和交流參數的Vcc (max)。在此測試期間不應發生熱關閉。
在室溫、熱、冷溫度下測試HTOL前后的濃度。
參考標準:JESD22-A110;
測試條件:
Plastic Packaged Parts
Grade 0: +175℃ for 1000 hours or +150℃ for 2000 hours.
Grade 1: +150℃ for 1000 hours or +175℃ for 500 hours.
Grades 2 to 3: +125℃ for 1000 hours or +150℃ for 500 hours.
Ceramic Packaged Parts
+250℃ for 10 hours or +200℃ for 72 hours.
TEST before and after HTSL at room and hot temperature.
* NOTE: Data from Test B3 (EDR) can be substituted for Test A6 (HTSL) if package and grade level requirements are met.
譯文:
二、高加速應力試驗(HAST)
參考標準:JESD22-A110;
測試條件:
塑料包裝部分
0級:+175℃1000小時或+150℃2000小時。
1級:+150℃1000小時或+175℃500小時。
2 ~ 3級:+125℃1000小時或+150℃500小時。
陶瓷包裝部分
+250℃10小時或+200℃72小時。
在室溫和高溫下測試HTSL前后。
*注:如果滿足包裝和等級要求,測試B3 (EDR)數據可替換為測試A6 (HTSL)數據。
HAST高壓加速老化試驗箱-瑞凱
三、高溫存儲試驗(HTSL)
參考標準:JESD22-A103 ;
測試條件:
Plastic Packaged Parts
Grade 0: +175℃ for 1000 hours or +150℃ for 2000 hours.
Grade 1: +150℃ for 1000 hours or +175℃ for 500 hours.
Grade 2 to 3: +125℃ for 1000 hours or +150℃ for 500 hours.
Ceramic Packaged Parts
+250℃ for 10 hours or +200℃ for 72 hours.
TEST before and after HTSL at room and hot temperature.
* NOTE: Data from Test B3 (EDR) can be substituted for Test A6 (HTSL) if package and grade level requirements are met.
譯文:
三、高溫存儲試驗(HTSL)
參考標準:JESD22-A103 ;
測試條件:
塑料包裝部分
0級:+175℃1000小時或+150℃2000小時。
1級:+150℃1000小時或+175℃500小時。
2 ~ 3級:+125℃1000小時或+150℃500小時。
陶瓷包裝部分
+250℃10小時或+200℃72小時。
在室溫和高溫下測試HTSL前后。
*注:如果滿足包裝和等級要求,測試B3 (EDR)數據可替換為測試A6 (HTSL)數據。











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